开尔文探针(Kelvin Probe)—RTK是一种基于振动电容的非接触无损气相环境金属表面电位的测量技术，用于测量材料的功函数(Work Function)或表面势(Surface Potential)。它可以用于检测气相环境中因温度、湿度、表面的化学、电学、力学、晶体、吸附、成膜等因素引起的材料表面电势的微小变化，是一种高灵敏的表面电化学分析技术，是唯一能够测定气相环境中腐蚀电极表面电位的方法开尔文探针(Kelvin Probe)—RTK是一种基于振动电容的非接触无损气相环境金属表面电位的测量技术，用于测量材料的功函数(Work Function)或表面势(Surface Potential)。它可以用于检测气相环境中因温度、湿度、表面的化学、电学、力学、晶体、吸附、成膜等因素引起的材料表面电势的微小变化，是一种高灵敏的表面电化学分析技术，是能够测定气相环境中腐蚀电极表面电位的方法

功能介绍

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)，是一种灵敏的表面分析技术。

应用范围：吸附，腐蚀，沉积，表面研究，电池系统，真空研究，功函数工程学。

样品要求：样品厚薄均匀，测定面洁净，上下底面水平。

主要特点

1、全球早期商用的意义上的开尔文探针系统；

2、采用非零技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；

3、高度调节技术 ——在测量和扫描时可以精确控制针尖的高度，保证了数据的高重现性且不会漂移；

4、快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间；

5、功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作。

主要技术参数

1、2毫米，50微米探针；

2、功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；

3、针尖到样品表面距离可以达到400纳米以内；

4、功函数或表面势、样品形貌3维地图绘制。